Microscopio electrónico de barrido Zeiss MA15,  equipado con detector de electrones secundarios para obtener imágenes de alta resolución SEI (Secundary Electron Image), detector de electrones retrodispersados que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y detector de energía dispersiva EDS (Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis e imágenes de distribución de elementos en superficies pulidas.